Tecnologia de raio X fácil de usar

O novo nível de simplicidade

Veja o invisível de uma vez só

ZEISS METROTOM 1

Com a tecnologia de TC fácil de usar do ZEISS METROTOM 1, é possível realizar tarefas complexas de medição e inspeção de modo eficiente com apenas um escâner. Meça e inspecione defeitos ocultos e estruturas internas que não podem ser analisados com sistemas de medição táteis ou ópticos. Igualmente inteligente é o tamanho do ZEISS METROTOM 1. O escâner TC ocupa pouco espaço, o que facilita sua acomodação em um laboratório de metrologia e possibilita medições e inspeções internas em apenas uma etapa.

Um único sistema de tomografia, várias vantagens

O ZEISS METROTOM 1 é o dispositivo ideal para atualizar seu portfólio de inspeção de qualidade com o uso de tomografia computadorizada industrial. O sistema de tomografia conta com muitas vantagens:

Manuseio fácil

X-Ray easy-to-use

O ZEISS METROTOM 1 foi desenvolvido com a comodidade do usuário em mente. É bem fácil instalar o equipamento, que não requer muito treinamento para usá-lo. O processo de escâner é iniciado com apenas um clique.

Medições precisas

Precise X-Ray Technology

Pequeno, mas completo: com o ZEISS Metrotom 1, você pode medir e avaliar peças completas. Você pode realizar comparações nominais/reais, verificações dimensionais e análises de espessura de parede precisas com a segurança de que você pode confiar em suas medições.

Espaço ocupado reduzido

Compact CT system

O ZEISS Metrotom 1 é surpreendentemente compacto. Ele possui 1750 mm (L) x 1820 mm (A) x 870 mm (P). Isso significa que o sistema de tomografia cabe em qualquer laboratório de metrologia, permitindo que você execute medições internas e controle de qualidade sem serviços de medição externos.

Retorno rápido do investimento

Fast return on investment

Além dos baixos custos de aquisição, os custos de propriedade são os mínimos possíveis graças ao sistema de baixa manutenção: o tubo de ZEISS METROTOM 1 não precisa de manutenção durante a operação.

ZEISS METROTOM 1 - confiável e compacto

Tecnologia de tomografia progressiva para todo laboratório de metrologia

A ZEISS é especialista no campo de tecnologia de tomografia e tem fornecido sistemas de tomografia computadorizada confiáveis como parte da família METROTOM há mais de uma década. O sistema de tomografia computadorizada ZEISS METROTOM 1 agora torna a tecnologia de raio-X confiável e a garantia de qualidade não destrutiva disponível para todo mundo.

ZEISS METROTOM 1
Flat panel detector

Os raios X que varrem a amostra são detectados por um detector de painel plano.

Rotary table

A mesa giratória é um componente essencial durante o processo de varredura para possibilitar a captura de um conjunto de dados 3D completo de uma peça.

X-ray tube

Os raios X são gerados a partir do tubo de raio X e penetram a amostra.

Meça componentes inteiros. Garanta peças sem defeitos.

Com o ZEISS METROTOM 1, é possível detectar defeitos ocultos de peças com facilidade em qualquer laboratório de medição. Com o ZEISS METROTOM 1, você pode inspecionar uma variedade de peças de tamanho médio ou pequeno, feitas de plástico ou metal leve, como conectores, tampas de plástico, peças de alumínio e mais.

ZEISS METROTOM 1 with GOM Volume Inspect

ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

Artificial intelligence in computed tomography

The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.

Experimente como o sistema funciona

Dados técnicos

Pequenos e poderosos com ZEISS

Campos de aplicação:
Inspeção não destrutiva, varredura simultânea de diversas peças

Recursos de inspeção:
Medições de estruturas internas e externas, inspeções de defeitos internos, por exemplo, furos de encolhimento.

X-ray source

160 kV

X-ray detector (pixels):

2.5 k (2,500 x 2,500)

Measuring volume

165 x 140 mm

Metrology specification (MPE SD)

5 µm +L/100

Dimensions

1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D)

Weight

2100 kg

Software

GOM Volume Inspect (included)

Resolution

32,6 μm

High Resolution Mode

With the High Resolution (HR) mode you can decrease the voxel size of your ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.

  • Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
  • Improved image quality
  • Easy switch between Standard and High Resolution mode

Features

ZEISS METROTOM 1
Standard

ZEISS METROTOM 1
High Resolution

Voxel size

65.3 μm

32.6 μm

Measuring volume

165 x 140 mm

80 x 80 mm

Pixel size

78 μm x 78 μm

39 μm x 39 μm

View more details and receive a sharper image with the High Resolution mode.

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